Oberflächen-Metrologie-Kurse als Video


Auf dieser Seite finden Sie eine Reihe von Lehrvideos, die zunächst auf Französisch verfasst wurden (einige sind jedoch mit englischen Untertiteln verfügbar), zu Themen wie Analysemethoden für Oberflächenbeschaffenheit, Instrumentierung...
Den YouTube-Kanal finden Sie unter:  Oberflächenmetrologiekurse.




Einleitung zur Charakterisierung von Oberflächenbeschaffenheit

Dieses Video erklärt, warum Oberflächenbeschaffenheitsspezifikationen für industrielle Teile und Konsumgüter wichtig sind, und erklärt die Grundlagen der Oberflächenbeschaffenheitsanalyse.
Dauer: 12 Minuten 50 Sekunden. [Englische Untertitel verfügbar]






Filtern und Datenvorbereitung


Vorbereitung optischer Messungen

Thema dieser Präsentation ist die Vorbereitung und Reinigung von Oberflächendaten, die mit einem optischen 3D-Profilometer gemessen wurden, um Ausreißer zu entfernen und nicht gemessene Punkte zu füllen. Dieser Vorgang ist vor der metrologischen Analyse obligatorisch, um fundierte Ergebnisse zu erzielen.
Dauer: 10 Minuten 19 Sekunden [Englische Untertitel verfügbar]


Multiskalenanalyse von Oberflächen (Teil 1)

Präsentation von Professor Christopher Brown, WPI, während eines von Digital Surf in Paris organisierten Seminars. Der erste Teil erklärt die Konzepte der Beobachtungsskalen und der Interaktionsskalen und gibt eine Einführung in die Multiskalenanalyse von Oberflächen.
Die Folien der Präsentation können im PDF-Format heruntergeladen werden:
Folien der Präsentation.
Dauer: 34 Minuten 03 Sekunden [nur auf Französisch]


Multiskalenanalyse von Oberflächen (Teil 2)

Präsentation von Professor Christopher Brown, WPI, während eines von Digital Surf in Paris organisierten Seminars. Der zweite Teil erklärt fraktale Methoden wie Längen-Skala, Flächen-Skala und Füll-Skala, die ursprünglich in Sfrax von Chris Brown entwickelt wurden und heute in MountainsMap erhältlich sind.
Die Folien der Präsentation können im PDF-Format heruntergeladen werden:
Folien der Präsentation.
Dauer: 22 Minuten 46 Sekunden [nur auf Französisch]


Bandpassfiltern

Präsentation über Bandpassfiltern, mit zwei Gaußschen Filtern, um die Analysebandbreite zu begrenzen und eine Multiskalenanalyse von Oberflächen durchzuführen. Diese Methode erlaubt auch funktionale Korrelationen.
Die Folien der Präsentation können im PDF-Format heruntergeladen werden:
Folien der Präsentation.
Dauer: 22 Minuten 23 Sekunden [Englische Untertitel verfügbar]


Funktionelle Korrelation

Präsentation von Professor Christopher Brown, WPI, während eines von Digital Surf in Paris organisierten Seminars. In dieser Präsentation wird erläutert, wie funktionale Korrelationen zwischen der Multiskalenanalyse einer Oberfläche und der Funktion oder Leistung eines Teils ermittelt werden können.
Die Folien der Präsentation können im PDF-Format heruntergeladen werden: Folien der Präsentation.
Dauer: 25 Minuten 10 Sekunden [nur auf Französisch]






Parameter der Oberflächenbeschaffenheit


Amplituden-Parameter aus ISO 4287

Dieses Video führt Amplitudenparameter ein, die auf Profilen berechnet werden, nach den Normen ISO 4287 und ASME B46.1.
Dauer: 8 Minuten 16 Sekunden [Englische Untertitel verfügbar]


Flächenhafte Parameter aus ISO 25178-2 (Teil 1)

Diese Präsentation führt Höhenparameter und Funktionsparameter ein, die sich auf die Materialanteil-Kurve beziehen, einschließlich Sk- und Volumenparameter.

Die Folien der Präsentation können im PDF-Format heruntergeladen werden: Folien der Präsentation.
Dauer: 21 Minuten 12 Sekunden [nur auf Französisch]


Flächenhafte Parameter aus ISO 25178-2 (Teil 2)

Diese Präsentation führt Hybridparameter und Topographieparameter ein, die aus der Segmentierung von Oberflächenmerkmalen berechnet werden.
Die Folien der Präsentation können im PDF-Format heruntergeladen werden:
Folien der Präsentation.
Dauer: 19 Minuten 48 Sekunden [nur auf Französisch]






Serie zum Thema "Instrumente zum Messen der Oberflächenbeschaffenheit"


Teil 1 - Kontakt-Profilometer

Beschreibung der Teile: Verfahrtisch, Sensor, Drehpunkt, Taster. Korrekturen und Kalibrierung. Werkstatt-Profilometer (mit Kufe), Tischplatten-Profilometer mit Säule, Low-Force-Profilometer.
Dauer: 21 Minuten 50 Sekunden [nur auf Französisch]


Teil 2 - Berührungslose Profilometer

Architektur eines berührungslosen 3D-Profilometers. Konfokaler chromatischer Sensor, Punkt-Autofokus-Sensor. Messen von transparenten Oberflächen.
Dauer: 16 Minuten 35 Sekunden [nur auf Französisch]


Teil 3 - Konfokale 3D-Mikroskope

Konfokales optisches Prinzip. Optische Scheiben, die durch vertikales Scanning erhalten werden. LSM, Nipkov-Scheibe, DLP-Matrizen. Haupt-Hersteller.
Dauer: 9 Minuten 48 Sekunden [nur auf Französisch]


Teil 4 - Weißlicht-Interferometer

Grundlagen der Interferometrie. Von Interferogrammen zur Höhenkarte. Verschiedene Arten von Objektiven. Haupt-Hersteller.
Dauer: 8 Minuten 45 Sekunden [nur auf Französisch]


Teil 5 - Multifokus-Mikroskope

Messprinzip. Vorteile und Nachteile.
Dauer: 3 Minuten 45 Sekunden [nur auf Französisch]


Teil 6 - Rastersondenmikroskope

Prinzip der Rastersondenmikroskope. Atomkraftmikroskop, Tunnelkraft. Multilayer-Messung.
Dauer: 14 Minuten 18 Sekunden [nur auf Französisch]


Siehe auch: Internationale Normen zur Oberflächenbeschaffenheit