Auf dieser Seite finden Sie eine Reihe von Lehrvideos, die zunächst auf Französisch verfasst wurden (einige sind jedoch mit englischen Untertiteln verfügbar), zu Themen wie Analysemethoden für Oberflächenbeschaffenheit, Instrumentierung...
Den YouTube-Kanal finden Sie unter: 
Oberflächenmetrologiekurse.
Einleitung zur Charakterisierung von Oberflächenbeschaffenheit
Dieses Video erklärt, warum Oberflächenbeschaffenheitsspezifikationen für industrielle Teile und Konsumgüter wichtig sind, und erklärt die Grundlagen der Oberflächenbeschaffenheitsanalyse.
Dauer: 10 Min 58 Sek [Englische Untertitel verfügbar]
Indications of surface texture on drawings
This video introduces the graphical language used to indicate surface texture specifications on technical drawings, according to ISO 1302. Changes introduced by the new ISO 21920-1 are also discussed.
Duration: 15 min 04 [Fully in English]
Amplituden-Parameter aus ISO 4287
Dieses Video führt Amplitudenparameter ein, die auf Profilen berechnet werden, nach den Normen ISO 4287 und ASME B46.1.
Dauer: 8 Min 50 Sek [Englische Untertitel verfügbar]
Vorbereitung optischer Messungen
Thema dieser Präsentation ist die Vorbereitung und Reinigung von Oberflächendaten, die mit einem optischen 3D-Profilometer gemessen wurden, um Ausreißer zu entfernen und nicht gemessene Punkte zu füllen. Dieser Vorgang ist vor der metrologischen Analyse obligatorisch, um fundierte Ergebnisse zu erzielen.
Dauer: 10 Min 49 Sek [Englische Untertitel verfügbar]
Metrologieseminar
Multiskalenanalyse von Oberflächen (Teil 1)
Präsentation von Professor Christopher Brown, WPI, während eines von Digital Surf in Paris organisierten Seminars. Der erste Teil erklärt die Konzepte der Beobachtungsskalen und der Interaktionsskalen und gibt eine Einführung in die Multiskalenanalyse von Oberflächen.
Die Folien der Präsentation können im PDF-Format heruntergeladen werden:
Folien der Präsentation.
Dauer: 34 Minuten 03 Sekunden [nur auf Französisch]
Multiskalenanalyse von Oberflächen (Teil 2)
Präsentation von Professor Christopher Brown, WPI, während eines von Digital Surf in Paris organisierten Seminars. Der zweite Teil erklärt fraktale Methoden wie Längen-Skala, Flächen-Skala und Füll-Skala, die ursprünglich in Sfrax von Chris Brown entwickelt wurden und heute in MountainsMap erhältlich sind.
Die Folien der Präsentation können im PDF-Format heruntergeladen werden:
Folien der Präsentation.
Dauer: 22 Min 46 Sek [nur auf Französisch]
Bandpassfiltern
Präsentation über Bandpassfiltern, mit zwei Gaußschen Filtern, um die Analysebandbreite zu begrenzen und eine Multiskalenanalyse von Oberflächen durchzuführen. Diese Methode erlaubt auch funktionale Korrelationen.
Die Folien der Präsentation können im PDF-Format heruntergeladen werden:
Folien der Präsentation.
Dauer: 22 Min 23 Sek [Englische Untertitel verfügbar]
Funktionelle Korrelation
Präsentation von Professor Christopher Brown, WPI, während eines von Digital Surf in Paris organisierten Seminars. In dieser Präsentation wird erläutert, wie funktionale Korrelationen zwischen der Multiskalenanalyse einer Oberfläche und der Funktion oder Leistung eines Teils ermittelt werden können.
Die Folien der Präsentation können im PDF-Format heruntergeladen werden: Folien der Präsentation.
Dauer: 25 Min 10 Sek [nur auf Französisch]
Flächenhafte Parameter aus ISO 25178-2 (Teil 1)
Diese Präsentation führt Höhenparameter und Funktionsparameter ein, die sich auf die Materialanteil-Kurve beziehen, einschließlich Sk- und Volumenparameter.
Die Folien der Präsentation können im PDF-Format heruntergeladen werden: Folien der Präsentation.
Dauer: 21 Min 12 Sek [nur auf Französisch]
Flächenhafte Parameter aus ISO 25178-2 (Teil 2)
Diese Präsentation führt Hybridparameter und Topographieparameter ein, die aus der Segmentierung von Oberflächenmerkmalen berechnet werden.
Die Folien der Präsentation können im PDF-Format heruntergeladen werden:
Folien der Präsentation.
Dauer: 19 Min 48 Sek [nur auf Französisch]
Serie zum Thema "Instrumente zum Messen der Oberflächenbeschaffenheit"
Teil 1 - Kontakt-Profilometer
Beschreibung der Teile: Verfahrtisch, Sensor, Drehpunkt, Taster. Korrekturen und Kalibrierung. Werkstatt-Profilometer (mit Kufe), Tischplatten-Profilometer mit Säule, Low-Force-Profilometer.
Dauer: 21 Min 50 Sek [nur auf Französisch]
Teil 2 - Berührungslose Profilometer
Architektur eines berührungslosen 3D-Profilometers. Konfokaler chromatischer Sensor, Punkt-Autofokus-Sensor. Messen von transparenten Oberflächen.
Dauer: 16 Min 35 Sek [nur auf Französisch]
Teil 3 - Konfokale 3D-Mikroskope
Konfokales optisches Prinzip. Optische Scheiben, die durch vertikales Scanning erhalten werden. LSM, Nipkov-Scheibe, DLP-Matrizen. Haupt-Hersteller.
Dauer: 9 Min 48 Sek [nur auf Französisch]
Teil 4 - Weißlicht-Interferometer
Grundlagen der Interferometrie. Von Interferogrammen zur Höhenkarte. Verschiedene Arten von Objektiven. Haupt-Hersteller.
Dauer: 8 Min 45 Sek [nur auf Französisch]
Teil 5 - Multifokus-Mikroskope
Messprinzip. Vorteile und Nachteile.
Dauer: 3 Min 45 Sek [nur auf Französisch]
Teil 6 - Rastersondenmikroskope
Prinzip der Rastersondenmikroskope. Atomkraftmikroskop, Tunnelkraft. Multilayer-Messung.
Dauer: 14 Min 18 Sek [nur auf Französisch]
Siehe auch: Internationale Normen zur Oberflächenbeschaffenheit