Le filtre λs, défini dans l'ISO 3274 et l'ISO 4288, était utilisé, sur les profils, pour retirer la microrugosité qui est composée des longueurs d'onde les plus courtes, afin d'obtenir le profil primaire qui est le point de départ de l'analyse métrologique. La microrugosité est principalement composée de bruit environnemental et instrumental, de faible intérêt.
Le développement des normes d'état de surface surfacique, la série ISO 25178, a fourni une opportunité de réviser le vocabulaire ancien puis de le transposer aux profils à l'occasion de l'ISO 21920. Le nouveau vocabulaire est parfois une source de confusion, en particulier lorsque les utilisateurs tentent de plaquer trop rapidement les nouveaux concepts sur l'ancien vocabulaire. Cet article détaille les nouveaux concepts concernant les filtres et cut-offs, afin d'aider les utilisateurs à mieux les comprendre et mieux les utiliser.
Les nouvelles normes définissent deux nouveaux types de filtres, nommés d'après leur action sur les longueurs d'onde. Un filtre est toujours associé à un cut-off (également appelé indice d'imbrication ou nesting index) qui défini les limites d'action du filtre.
Le filtre S atténue les longueurs d'onde plus courtes que le cut-off. La lettre S signifie short et souligne son action d'atténuation des longueurs d'onde plus petites que le cut-off.
Mais ce S n'est pas nécessairement lié au s de λs (qui définit la valeur du cut-off). Le filtre S utilise un cut-off qui peut avoir n'importe quelle valeur.
Le second type de filtre, le filtre L, atténue les longueurs d'onde qui sont plus longues que le cut-off (L pour long). Ce filtre atténue ce qui se trouve à droite du cut-off, quelle que soit la valeur du cut-off. Il est utilisé pour produire la rugosité, avec le cut-off Nic.
Le filtre S atténue ce qui est à gauche du cut-off, alors que le filtre L atténue ce qui est à droite du cut-off.
En combinant ces filtres avec les opérations de suppression de forme (opération F), on obtient soit une surface SF soit une surface SL (il n'existe pas de surface LF). Mais la surface SF peut être de deux types, selon le cut-off utilisé pour le cut-off du filtre S, λs ou λc.
Les surface SF et SL sont obtenues après opération F et/ou filtrage.
Les concepts historiques de rugosité et d'ondulation ont été définis sur les profils, et dans ce contexte, ils sont encore parfaitement valides. Cependant, sur une surface, la texture peut avoir un comportement du type ondulation en X et un comportement du type rugosité en Y. C'est pourquoi ces concepts ne s'appliquent pas toujours aux surfaces, d'où leur remplacement par des termes plus génériques, surface SF et surface SL.
Il est à noter que pour certaines applications, le cut-off Nic du filtre L utilisé pour la rugosité (ou la surface SL) peut être différent du cut-off Nic du filtre S utilisé pour l'ondulation (ou la surface SF). Dans ce cas, on utilisera les notations Nic1 et Nic2.
Les concepts de Filtre S et Filtre L ne sont pas la même chose que les cut-off λs et λc.
Le cut-off Nis est similaire au λs quand il est petit et utilisé avec un filtre S.
Le cut-off Nic est similaire au λc et peut être utilisé avec un filtre S pour produire l'ondulation ou avec un filtre L pour produire la rugosité.
Le filtre S atténue les longueurs d'onde sur la gauche du cut-off (les plus petites).
Le filtre L atténue les longueurs d'onde sur la droite du cut-off (les plus longues).