Comment utiliser un filtre S sur une surface
ou un filtre λs sur un profil ?

Le filtre S défini dans l'ISO 25178 est un filtre passe-bas qui atténue les composantes spatiales de plus petite échelle que le cut-off (nesting index) du filtre (S pour "short"). Il est similaire au filtre λs des profils quand le cut-off est petit. Ce filtre de microrugosité fut établi pour la mesure de profils afin de réduire le bruit instrumental des premiers profilomètres, dans les années 1980, et permettre ainsi une meilleure comparaison entre les profilomètres de marque différente ou entre les profilomètres d'atelier et ceux de laboratoire.

1. Utiliser un filtre λs sur un profil

Les profils mesurés ont une longueur de plusieurs millimètres et un pas d'échantillonnage habituellement de l'ordre du micromètre. Cela donne un nombre de points mesurés de plusieurs milliers. L'ISO 4288 fournit des tables reliant le pas maximal avec le rayon de pointe du stylet et la valeur du cut-off λs à utiliser. Ces tables sont également dans l'ISO 21920-3 qui remplace désormais l'ISO 4288.

Alors que ce filtre améliore la comparaison entre instruments, il retire également de l'information à haute fréquence qui parfois peut être intéressante pour comprendre la fonction de la pièce mesurée. Les utilisateurs cherchent toujours à acheter les proofilomètres les plus performants en termes de résolution et de niveau de bruit, mais ils retirent beaucoup d'information du profil mesuré en appliquant le filtre λs sans réfléchir. Il est à noter que la norme sectorielle allemande VDA2006 n'autorise pas le filtre λs dans l'évaluation des profils !

2. Le filtre S : à utiliser avec précaution !

Avec une mesure surfacique, il y a plusieurs centaines de points en X et plusieurs centaines de lignes en Y sur une zone mesurée relativement petite. C'est particulièrement vrai pour les profilomètres optiques basés sur une caméra, dont le champ de mesure se compte entre 0,5 mm et 2 à 3 mm de côté. Appliquer un filtre passe-bas sur de tels mesures peut faire perdre beaucoup de résolution et de détails.

Bien que le filtre S soit décrit dans l'ISO 25178 pour les mesures surfaciques, il ne devrait être utilisé que dans certains cas, c'est-à-dire pour limiter la bande passante de l'instrument, en toute connaissance de cause. Dans bien des cas, ce filtre est à proscrire.

3. Comment appliquer un filtre S dans MountainsMap^® ?

Pour réaliser un filtre S dans le logiciel MountainsMap^®, utiliser l'opérateur Filtre S (λs) ou l'opérateur Filtrage métrologique, pour générer une ondulation avec un petit cut-off Nis (par exemple 0,0025 mm). Utiliser un filtre gaussien ou un filtre spline, qui sont bien adaptés à cet usage. La surface résultante pourra être considérée comme une surface primaire, ou comme une surface SF si une suppression de forme a également été appliquée.

Appliquer un filtre L avec un large cut-off Nic sur la surface primaire produira alors une surface SL qui est équivalente à une surface de rugosité. Appliquer un filtre S avec un grand cut-off Nic produira une surface SF équivalente à une surface d'ondulation.